삼온도 검사 장비용 온도 제어를 위해, 공랭, 수랭 등의 방식으로 판체 및 캐비티의 온도를 제어하여 관련 온도 환경을 조성하고, 광통신 모듈, 프로브 스테이션, 패키지 칩 테스트 등 삼온도 테스트가 필요한 모듈 테스트를 수행합니다.